X荧光光谱仪 XRF

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X射线荧光光谱仪 EDX-LE

作者:admin 时间:2017-04-21 来源:http://www.u3shop.com

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X射线荧光光谱仪 EDX-LE
 
性能:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。
参数:测定原理     X射线荧光分析法
      测定方法      能量色散型
      测定对象      固体、液体、粉状
      测定范围      13Ai~92U
      样品室尺寸     最大W370*D320*H155mm

 
 

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参数:测定原理     X射线荧光分析法
      测定方法      能量色散型
      测定对象      固体、液体、粉状
      测定范围      13Ai~92U
      样品室尺寸     最大W370*D320*H155mm

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